Метод оптико-эмиссионной спектрометрии
http://twn-technology.ru/
+7 (499) 380-62-92
Заказать звонок
Каталог
  • Ультразвуковой контроль
    • Дефектоскопы
    • Сканеры
      • Сканеры для контроля сварных соединений
      • Сканеры для контроля коррозии
      • Сканеры для контроля композитных материалов
    • Преобразователи и призмы
      • ФР преобразователи и призмы
      • ToFD преобразователи и призмы
      • UT преобразователи и призмы
    • Установки ультразвукового контроля АЛЬФАСКАН
  • Рентгеновский контроль
    • Рентгеновская плёнка и реактивы Fujifilm
  • Визуально-измерительный контроль
  • Вихретоковый контроль
  • Испытательное оборудование
    • Испытательные машины
    • Приспособления и захваты для испытательных машин
      • Компрессионные плиты на сжатие
      • Приспособления на изгиб
      • Приспособления на сдвиг и срез
      • Приспособления для прокола
      • Захваты
  • Лазерные анализаторы металлов
Решения
Отзывы
Новости
Компания
  • О компании
  • Лицензии
  • Реквизиты
  • Вакансии
Контакты
Ещё
    http://twn-technology.ru/
    Каталог
    • Ультразвуковой контроль
      • Дефектоскопы
      • Сканеры
        • Сканеры для контроля сварных соединений
        • Сканеры для контроля коррозии
        • Сканеры для контроля композитных материалов
      • Преобразователи и призмы
        • ФР преобразователи и призмы
        • ToFD преобразователи и призмы
        • UT преобразователи и призмы
      • Установки ультразвукового контроля АЛЬФАСКАН
    • Рентгеновский контроль
      • Рентгеновская плёнка и реактивы Fujifilm
    • Визуально-измерительный контроль
    • Вихретоковый контроль
    • Испытательное оборудование
      • Испытательные машины
      • Приспособления и захваты для испытательных машин
        • Компрессионные плиты на сжатие
        • Приспособления на изгиб
        • Приспособления на сдвиг и срез
        • Приспособления для прокола
        • Захваты
    • Лазерные анализаторы металлов
    Решения
    Отзывы
    Новости
    Компания
    • О компании
    • Лицензии
    • Реквизиты
    • Вакансии
    Контакты
    Ещё
      http://twn-technology.ru/
      0
      • Каталог
        • Назад
        • Каталог
        • Ультразвуковой контроль
          • Назад
          • Ультразвуковой контроль
          • Дефектоскопы
          • Сканеры
            • Назад
            • Сканеры
            • Сканеры для контроля сварных соединений
            • Сканеры для контроля коррозии
            • Сканеры для контроля композитных материалов
          • Преобразователи и призмы
            • Назад
            • Преобразователи и призмы
            • ФР преобразователи и призмы
            • ToFD преобразователи и призмы
            • UT преобразователи и призмы
          • Установки ультразвукового контроля АЛЬФАСКАН
        • Рентгеновский контроль
          • Назад
          • Рентгеновский контроль
          • Рентгеновская плёнка и реактивы Fujifilm
        • Визуально-измерительный контроль
        • Вихретоковый контроль
        • Испытательное оборудование
          • Назад
          • Испытательное оборудование
          • Испытательные машины
          • Приспособления и захваты для испытательных машин
            • Назад
            • Приспособления и захваты для испытательных машин
            • Компрессионные плиты на сжатие
            • Приспособления на изгиб
            • Приспособления на сдвиг и срез
            • Приспособления для прокола
            • Захваты
        • Лазерные анализаторы металлов
      • Решения
      • Отзывы
      • Новости
      • Компания
        • Назад
        • Компания
        • О компании
        • Лицензии
        • Реквизиты
        • Вакансии
      • Контакты
      • Корзина0
      • +7 (499) 380-62-92
      Будьте на связи

      г. Москва, 1-й Нагатинский пр-д, д. 2, стр. 12, офис 7а

      г. Санкт-Петербург, 3-й Верхний переулок, д.15, кор.1, лит.А, офис 307

      info@twn-technology.ru
      service@twn-technology.ru
      • Facebook
      • Instagram
      • YouTube
      • Главная
      • Новости
      • Метод оптико-эмиссионной спектрометрии

      Метод оптико-эмиссионной спектрометрии

      Метод оптико-эмиссионной спектрометрии
      15 июля 2020

      ОЭС – это надежный и широко распространенный метод анализа, который используется для определения элементного состава широкого спектра металлов.

      Типы образцов, которые можно тестировать с помощью ОЭС, относятся образцы из расплавленного вещества, первичного и вторичного металлопроизводства, а также из металлообрабатывающих отраслей, например, трубы, болты, стержни, провода, плиты и многое другое.

      1.png

      Часть электромагнитного спектра, используемого в ОЭС, включает видимый спектр и часть ультрафиолетового спектра. Что касается длины волны, она составляет от нанометров до приблизительно 800 нанометров.

      2.png

      ОЭС может анализировать широкий диапазон элементов от Лития до Урана в твердых металлических образцах, работая с обширным диапазоном концентраций, очень высокой достоверностью, высокой точностью и низкими пределами обнаружения. 

      Элементы и концентрации, определяемые Оптико-эмиссионными спектрометрами, зависят от тестируемого материала и типа используемого спектрометра.

      Как же работает оптическая эмиссионная спектроскопия? 

      Все оптико-эмиссионные спектрометры содержат три главных компонента. 

      Первым является электрический источник возбуждения атомов внутри металлического образца, чтобы они излучали характерный свет или оптические эмиссионные линии.

      Для этого необходимо, чтобы небольшая часть образца нагрелась до нескольких тысяч градусов по Цельсию. Это достигается с помощью электрического высоковольтного источника в спектрометре через электрод.  

      Разница в электрическом потенциале между образцом и электродом производит электрический разряд. Этот разряд проходит через образец, нагревает и испаряет материал на поверхности, возбуждая атомы материала, который затем излучает характерные для элемента эмиссионные линии. 

      Можно произвести две формы электрического разряда: либо Дугу, работающую по принципу «вкл-выкл» и напоминающую удар молнии, либо искру – серию множества разрядов, при которой включается и выключается напряжение электрода. Эти два режима работы используются в зависимости от измеряемого элемента и необходимой точности.

      Второй компонент – это оптическая система.

      Свет, множественные оптические эмиссионные линии из испаренного образца (плазмы) пропускаются в спектрометр. Дифракционная решетка в спектрометре разделяет входящий свет на специфические для элемента длины волны, а соответствующий детектор измеряет интенсивность света для каждой длины волны. 

      Измеренная интенсивность пропорциональна концентрации элемента в образце. 

      Третий компонент – это компьютерная система. 

      Компьютерная система получает измеренные интенсивности и обрабатывает эти данные с помощью заранее определенной калибровки для расчета концентрации элементов.

      Пользовательский интерфейс обеспечивает минимальное участие оператора, четко отображая результаты, которые можно распечатать или сохранить на будущее. 

      9.png  

      Итак, как мы генерируем специфические для элемента оптические эмиссионные линии из металлического образца?

      Когда энергия электрического разряда взаимодействует с атомом, происходит выброс некоторых электронов во внешних оболочках атома.

      Электроны внешней оболочки менее плотно связаны с ядром атома, потому что они находятся дальше от ядра. Таким образом они требуют меньше энергии для выброса. 

      Выброшенные электроны создают вакантное место, делая атом неустойчивым. Чтобы восстановить стабильность, электроны с более высоких орбиталей, удаленных от ядра, падают вниз, заполняя вакантное место.

      Избыточная энергия, высвобождаемая при движении электронов между двумя энергетическими уровнями или оболочками, излучается в виде специфического для элемента света или оптической эмиссии.

      Каждый элемент излучает ряд спектральных линий, соответствующих разным переходам электронов между разными энергетическими уровнями или оболочками. Каждый переход создает определенную оптическую эмиссионную линию с фиксированной длиной волны или энергией излучения.

      В типичном металлическом образце, содержащем Железо, Марганец, Хром, Никель, Ванадий и т.д., каждый элемент излучает множество длин волны, что приводит к большому количеству линий в спектре. Например, Железо излучает чуть более 8000 различных длин волны, поэтому важно выбрать оптимальную эмиссионную линию для данного элемента в образце.

      13.png

      Характерный свет, излучаемый атомами в образце, передается в оптическую систему, где он с помощью высокотехнологичной решетки разделяется на спектральные длины волн.

      Эта решетка содержит до 3600 штрихов на миллиметр.

      15.png

      Затем отдельные пиковые сигналы спектральной линии собираются детекторами и обрабатываются для получения спектра, показывающего пиковые интенсивности света в сопоставлении с длинами волн. 

      Таким образом, ОЭС обеспечивает информацию качественного характера об измеренном образце. Однако ОЭС также является количественным методом. Как мы видим, пиковая длина волны идентифицирует элемент, а пиковая площадь или интенсивность указывают на его количество в образце. 

      16.png

      Затем анализатор использует эту информацию для того чтобы высчитать элементный состав образца на основе калибровки с сертифицированным стандартным образцом. 

      17.png

      Весь процесс, от нажатия кнопки старта или пускового механизма до получения результатов анализа, может занять всего 3 секунды или до 30 секунд для полного и точного количественного анализа. Все зависит от используемого оборудования, диапазона измеряемых элементов и концентраций этих элементов.

      18.JPG

      ОЭС обладает множеством преимуществ по сравнению с другими методами анализа. Это быстрый и относительно простой в использовании метод, с помощью которого можно измерять широкий диапазон элементов и концентраций во множестве различных видов материалов. В том числе он подходит для измерения таких важных элементов как Углерод, Сера, Фосфор, Бор и Азот.

      Он весьма точен при измерении следовых элементов и примесей, а также достаточно недорогой по сравнению с другими методами.

      Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос по продукту
      Задать вопрос

      Поделиться
      Назад к списку
      © 2021 Все права защищены.
      Наши контакты


      +7 (499) 380-62-92 
      info@twn-technology.ru
      service@twn-technology.ru

      г. Москва, 1-й Нагатинский пр-д, д. 2, стр. 12, офис 7а

      г. Санкт-Петербург, 3-й Верхний переулок, д.15, кор.1, лит.А, офис 307

      Оставайтесь на связи
      • Facebook
      • Instagram
      • YouTube
      0

      Корзина

      Ваша корзина пуста

      Исправить это просто: выберите в каталоге интересующий товар и нажмите кнопку «В корзину»
      В каталог